光纤阵列中多通道端面高度不一致会导致插入损耗不均，影响整体通信性能。立仪通过多点非接触式测量方案，对光纤阵列端 […]

屏幕翘曲会导致贴合不良、亮暗不均等问题。立仪通过非接触式光学测量方案，对屏幕整体平整度和翘曲情况进行检测，提升 […]

锂电池电极表面缺陷会影响电池的内阻和放电性能。立仪利用光谱共焦技术，对电池电极表面进行高分辨率缺陷检测，确保电 […]

触摸屏模组厚度不均匀会导致触摸不灵敏或者显示不均匀。立仪通过高精度厚度测量技术，确保触摸屏模组的厚度均匀，提升 […]

涂布起始与结束区域易出现膜厚不稳定。立仪采用高精度膜厚测量技术，对局部区域进行高分辨率膜厚测量，辅助工艺优化。

立仪采用光谱共焦，对密封胶涂覆区域进行多点同步测量，获取高度分布曲线。

立仪通过非接触式厚度测量方案，对玻璃上下表面进行高精度测量，实现在线厚度实时监控。

立仪采用光学膜厚测量技术，对阻焊油墨及功能涂层进行非接触膜厚测量。

光模块内部存在多级精密结构，其高度差直接影响光路对准精度与模块性能。立仪采用非接触式位移测量方案，对光模块关键 […]

3C 产品中大量金属结构件需要保证高度与平面度一致性。立仪通过非接触式光学测量方案，对金属结构件进行稳定检测， […]

锂电池单体尺寸和形状不合格会影响电池的组装与安全性。立仪通过3D轮廓扫描技术，提供高精度的锂电池单体尺寸和形状 […]

OLED显示屏膜厚偏差大可能导致显示效果差或寿命缩短，传统膜厚测量无法适应生产速度。立仪采用在线膜厚检测技术， […]

立仪利用位移传感器对薄膜表面进行高速扫描，通过高度突变识别局部厚度缺陷。

立仪通过光谱共焦技术对关键位置胶点高度进行精确测量，用于工艺调节与质量判定。

立仪使用光谱共焦技术，对玻璃表面进行全幅扫描，获取高度分布数据，量化平整度与翘曲度。

钻孔后孔口毛刺或高度异常会影响电镀质量与可靠性。

光模块批量装配后，整体高度偏差会影响插拔兼容性与系统集成。立仪通过非接触式高度测量方案，实现对光模块整体高度的 […]

3C 产品中微小零件尺寸小、精度要求高，传统测量难以满足需求。立仪采用高分辨率非接触测量方案，实现对微小结构尺 […]

电池包的尺寸和形状不符合要求会影响电池模块的组装以及电池的实际性能。立仪通过3D轮廓扫描测量方案，实现对电池包 […]

心脏支架通常采用金属基体+药物或功能涂层结构，涂层厚度直接影响药物释放曲线与植入安全性。传统抽检方式效率低，且 […]

立仪采用高精度膜厚测量技术，对高反射表面具备良好适应性，实现稳定膜厚测量。

立仪采用光谱共焦技术，对高反射表面具有良好适应性，实现点胶高度的稳定测量。

立仪采用高精度非接触测量技术，识别多层结构内部反射界面，实现单层及整体厚度的高精度测量。

线路高度与线宽不一致会影响阻抗与信号完整性。 立仪采用光谱共焦技术，对线路表面进行高度与轮廓测量。