网站地图立仪科技 - 深圳立仪科技有限公司

深圳立仪科技有限公司

Shenzhen LightE-Technology Co.,Ltd

0755-2826 3345

En 365biwei

En

查找产品相关信息

光谱共焦位移传感器 D40A17 系列镜头

直径40mm，适中尺寸可满足大多数安装场景此款拥有90度出光镜头版本，可用测量侧面尺寸大光斑精度中上，长工作距离，量程适中，是一款通用型号 D40系列中长度尺寸最短的型号，适用于对长度尺寸有要求的应用场景
3D线光谱共焦位移传感器

同轴结构设计，3D线性扫描；微米级精度，Z轴线性精度达±1.25um，垂直方向工作范围达4mm，支持最大±22°的镜面反射测量角度，曲面适配力更强；适配透明、半透明、镜面、高反光、高吸光、金属、塑料、陶瓷等各类材料。
线激光位移传感器

亚微米级高效三维扫描，高速度、高性能、高精准测量，重复精度可达0.1um；2500帧全视野范围采样速率，4K物理轮廓点数X方向，可同时输出深度图与亮度图；可定制激光模组。
C2-TP02 膜厚仪

立仪科技基于公司特有的一款光谱共焦位移传感器，并采用超高精密运动平台驱动其进行在线扫描，开发出一种非接触式、无损的、且快速的光学膜厚测量系统。可以用于测量各种薄膜厚度、油墨银浆厚度、LTCC/MLCC湿膜、厚膜电阻行业膜厚、太阳能行业膜厚、透明胶水厚度等，专门解决工业膜厚测量的问题，改善工艺和提高生产效率和质量。
HM-S100半自动检测系统

1、非接触光学测量系统。 2、应对各种材质，重复测量精度≦0.5µm。 3、高速采样，最快周期20µs。 4、强大的CPK统计功能。 5、吸附系统及高精度位移系统。 6、测量轮廓、断差、槽深、高度等。
点白光干涉仪

纳米级精度，最高精度达0.1nm，采样频率最高可达到5KHz，可测多层薄膜，支持膜层层数可达100层，可获得每一层薄膜材料的光学参数（厚度、折射率、消光系数）；透明、高反射材质测量，光刻胶厚度测量，测量厚度范围可达0.01-300μm。
点光谱共焦位移传感器G系列

亚微米级分辨率，高光强通路，成像质量更清晰；采样速度最高可达33KHz；丰富接口类型，支持多种模拟量输出，支持五轴AB编码器输入输出；独立运行，即开即用；适配透明、半透明、镜面、高反光、高吸光、金属、塑料、陶瓷等各类材料。
光谱共焦位移传感器 D8A29 系列镜头

直径8mm，小巧，可满足绝大多数安装场景相比D8A18，此系列光斑更小，精度更好，角度更大，可测更大角度被测物的尺寸特征
光谱共焦位移传感器 D15A20 系列镜头

直径15mm，小尺寸可满足绝大多数安装场景测量角度适中，量程不大，能满足大部分零件的高精度测量此款拥有两款90°出光版本，-90版本可测量被测物水平方向的尺寸，而-90B版本则是进一步减小了长度尺寸，能满足更苛刻的空间安装需求

前往页共5页/ 39条数据 1 234 5